Surface scattering and diffraction for advanced metrology : 1 August 2001 San Diego, USA / Zu-Han Gu, Alexei A. Maradudin chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 4447)
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1F図書 |
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A9/SP/4447 | 10020888 |
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| 出版情報 | Bellingham, Wash. : SPIE , c2001 |
|---|---|
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | vii, 164 p. : ill. ; 28 cm |
| 一般注記 | Includes index |
| 著者標目 | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers Gu, Zu-Han Maradudin, A. A. |
| ISBN | 0819441619 |
| NCID | BA60568574 |

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