Soft X-ray and EUV imaging systems : 3-4 August 2000, San Diego, USA

Soft X-ray and EUV imaging systems : 3-4 August 2000, San Diego, USA / Winfried M. Kaiser, Richard H. Stulen chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 4146)

配架場所	巻　次	請求記号	登録番号	状　態	利用注記	予約
1F図書		A9/SP/4146	9933375

出版情報	Bellingham, Wash., USA : SPIE , c2000
本文言語	英語
大きさ	vii, 178 p. : ill. ; 28 cm
一般注記	Includes bibliographical references and index
著者標目	Kaiser, Winfried M. Stulen, Richard H. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
件　名	LCSH:X-ray astronomy -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:X-ray optics -- Congresses 全ての件名で検索
ISBN	0819437913
NCID	BA4967505X