Optics of charged particle analyzers / Mikhail Yavor
(Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 157)
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| 出版情報 | Amsterdam ; Tokyo : Elsevier , 2009 |
|---|---|
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xxiii, 381 p. : ill. ; 24 cm |
| 一般注記 | Includes bibliographical references (p. 351-371) and index |
| 著者標目 | Yavor, Mikhail |
| ISBN | 9780123747686 |
| NCID | BA90973345 |

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