この文献を取り寄せる

このページのリンク

Optics of charged particle analyzers / Mikhail Yavor
(Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 157)

所蔵情報を非表示

1F図書
S4/AE/157 10090269

書誌詳細を非表示

出版情報 Amsterdam ; Tokyo : Elsevier , 2009
本文言語 英語
大きさ xxiii, 381 p. : ill. ; 24 cm
一般注記 Includes bibliographical references (p. 351-371) and index
著者標目 Yavor, Mikhail
ISBN 9780123747686
NCID BA90973345