Polarization analysis, measurement, and remote sensing III : 2-4 August 2000, San Diego, USA

Polarization analysis, measurement, and remote sensing III : 2-4 August 2000, San Diego, USA / David B. Chenault, Michaek J. Duggin, Walter G. Egan, Dennis H. Goldstein, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--The International Society for Optical Engineering
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 4133)

配架場所	巻　次	請求記号	登録番号	状　態	利用注記	予約
1F図書		A9/SP/4133	9933373

出版情報	Bellingham, Wash. : SPIE , c2000
本文言語	英語
大きさ	ix, 302 p. : ill. ; 28 cm
著者標目	Goldstein, Dennis H. Chenault, David B. Duggin, Michael J. Egan, Walter G. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
件　名	LCSH:Polarimetry -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:QC443 DC20:535.52/0287
ISBN	0819437786
NCID	BA49669057