この文献を取り寄せる

このページのリンク

Rough surface scattering and contamination : 21-23 July 1999, Denver, Colorado / Philip T. C. Chen, Zu-Han Gu, Alexei A. Maradudin, chairs/editors ; sponsored and pubslished by SPIE--The International Society for Optical Engineering
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 3784)

所蔵情報を非表示

1F図書 pbk. A9/SP/3784 9932543

書誌詳細を非表示

出版情報 Bellingham, Wash. : SPIE , 1999
本文言語 英語
大きさ vii, 404 p. : ill. ; 28 cm
一般注記 Includes bibliographical references and indexes
著者標目 Chen, Philip T. C.
 Gu, Zu-Han
 Maradudin, A. A.
 Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
ISBN 0819432709
NCID BA45732297