Rough surface scattering and contamination : 21-23 July 1999, Denver, Colorado / Philip T. C. Chen, Zu-Han Gu, Alexei A. Maradudin, chairs/editors ; sponsored and pubslished by SPIE--The International Society for Optical Engineering
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 3784)
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1F図書 | pbk. | A9/SP/3784 | 9932543 |
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| 出版情報 | Bellingham, Wash. : SPIE , 1999 |
|---|---|
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | vii, 404 p. : ill. ; 28 cm |
| 一般注記 | Includes bibliographical references and indexes |
| 著者標目 | Chen, Philip T. C. Gu, Zu-Han Maradudin, A. A. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers |
| ISBN | 0819432709 |
| NCID | BA45732297 |

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