※一部利用できない機能があります
Vth International Congress on X-ray Optics and Microanalysis = V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse = Ve Congrès International sur l'Optique des Rayons X et al Microanalyse, Tübingen, September 9th-14th, 1968
- フォーマット:
- 図書
- 責任表示:
- edited by G. Möllenstedt and K. H. Gaukler
- 言語:
- 英語; フランス語; ドイツ語
- 出版情報:
- Berlin ; New York : Springer-Verlag, 1969
- 形態:
- xii, 612 p : illus ; 28 cm
- 著者名:
- 書誌ID:
- BA14445541