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Ultraviolet and x-ray detection, spectroscopy and polarimetry III : 19-20 July 1999, Denver, Colorado
- フォーマット:
- 図書
- 責任表示:
- Silvano Fineschi, Bruce E. Woodgate, Randy A. Kimble, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 言語:
- 英語
- 出版情報:
- Bellingham, Wash. : SPIE, c1999
- 形態:
- vii, 288 p. : ill. ; 28 cm
- 著者名:
- シリーズ名:
- Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 3764 <BA0022700X>
- 書誌ID:
- BA45717599
- ISBN:
- 9780819432506 [0819432504]